一、適用範圍：

電纜半導電層電阻試驗裝置適用於(yu) GB/T11017.1-2002，附錄B、GB/T12706.2-2002和GB/T3048.3-2007《電線電纜電性能試驗方法 第三部分 半導電橡塑材料體(ti) 積電阻率試驗方法》標準。能對3.5萬(wan) 伏、11萬(wan) 伏、22萬(wan) 伏等各種高壓交聯電纜的導體(ti) 半導電屏蔽層和絕緣半導電屏蔽層的電阻進行測量，從(cong) 而得出半導電屏蔽層電阻率。增加相應附件，能完成GB3048.3《電線電纜電性能試驗方法·第3部分·半導電橡塑材料體(ti) 積電阻率試驗》標準中半導電材料的電阻率的測試。該測試裝置為(wei) GOSUN科技公司產(chan) 品。

二、電纜半導電層電阻試驗裝置的組成和主要參數：

為(wei) 能準確的完成GB110717—2002附錄A和GB/T3048—2007標準中提出的試驗步驟。本成套裝置由三台設施組成。

2.1 BDD型半導電層試樣製備機：為(wei) 取得半圓型交聯電纜試樣而設計，根據試樣外徑大小分為(wei) 二個(ge) 型號

2.2 BDD型半導電層電阻測試儀(yi) ，為(wei) 測試導體(ti) 屏蔽層和絕緣屏蔽層電阻而設計：

·測試功率：   不超過100MW

·電源對地絕緣電阻：   不小於(yu) 10¹²Ω

·電壓表輸入端對地絕緣電阻：  不小於(yu) 10¹²Ω

·***大測量電阻：  2×1MΩ

2.3 BDD型半導電層測試恒溫烘箱，為(wei) 試樣在90℃恒溫條件下測試電阻而設計：

·有效容積：  450×450×450mm

·一次***多試樣個(ge) 數：  4個(ge)

·恒溫溫度：  90±1℃

2.4 用戶如果須完成GB3048.3即半導電橡塑材料體(ti) 積電阻率試驗，須另行訂購半導電橡塑材料體(ti) 積電阻率試驗儀(yi) ，結合BDD型半導電層電阻測試儀(yi) ，即可完成該項目的試驗。